دوره جامع و تخصصی آموزش تحلیل و تفسیر داده‌های XPS (طیف‌سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس) با هدف انتقال دانش تخصصی و تجربیات علمی، به‌ویژه برای دانشجویان، پژوهشگران و متخصصان حوزه شیمی و علم مواد طراحی شده است و در این دوره آموزشی تمامی مراحل تحلیل داده‌های XPS به‌صورت گام‌به‌گام و با بهره‌گیری از نرم‌افزار تخصصی Origin آموزش داده می‌شود. هدف از این دوره ارتقای دانش و توانمندی‌های تخصصی پژوهشگران و متخصصان است تا آنان را برای مواجهه با چالش‌های علمی و صنعتی آماده سازیم.
اهداف دوره
این دوره با تمرکز بر موارد زیر برگزار می‌شود:
- ارائه مفاهیم تخصصی و اصول پایه طیف‌سنجی XPS
- آموزش عملی تحلیل طیف‌ها با جزئیات دقیق و حرفه‌ای
- راهکارهای بهینه‌سازی تحلیل داده‌ها برای پروژه‌های علمی و صنعتی
مدرس
جناب آقای دکتر حمیدرضا رحمانی،
رزومه مدرس
رتبه یک کنکور دکتری شیمی معدنی در سال ۱۳۹۸ و فارغ‌التحصیل از دانشگاه تربیت مدرس
دستیار آموزشی (TA) درس طیف‌سنجی در شیمی معدنی دانشگاه تربیت مدرس
تحلیلگر و مدرس دوره‌های تخصصی XPS، HRTEM، FESEM، FT-IR و DRS
ارتقای دانش و توانمندی‌های تخصصی پژوهشگران و متخصصان است تا آنان را برای مواجهه با چالش‌های علمی و صنعتی آماده سازیم.
این دوره فرصتی بی‌نظیر برای تسلط بر یکی از پیشرفته‌ترین تکنیک‌های طیف‌سنجی و کاربرد آن در حوزه‌های تحقیقاتی و صنعتی است. جهت ثبت‌نام و دریافت اطلاعات بیشتر، با ادمین‌های شیمی باما شماره 09398565101 ارتباط حاصل فرمایید.
