کتاب تجزیه و تحلیل سطحی پلیمرها با استفاده از XPS و Static SIMS نوشته D. Briggs درباره اصول، پایههای فیزیکی و کاربردهای طیفسنجی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) و طیفسنجی جرم جانبی ثابت (SSIMS) بوده و شامل تمرکز ویژه بر روی موضوع مواد پلیمری است. XPS و SSIMS به عنوان دو تکنیک قدرتمند برای تجزیه شیمیایی سطح پلیمرها به ویژه در زمینه تحقیقات صنعتی و حل مسائل به طور گسترده شناخته میشوند. نویسنده تکنیکها و کاربردهای XPS و SSIMS را توصیف میکند. او همچنین جزئیات مطالعات موردی را شرح میدهد و تأکید بر کاربرد مشترک و تکمیلی XPS و SSIMS در بررسی ساختار سطح پلیمر و ارتباط آن با خواص ماده دارد. این کتاب برای پژوهشگران دانشگاهی و صنعتی علاقهمند به سطوح پلیمری و تجزیه و تحلیل سطح ارزشمند خواهد بود.
کتب شیمی تجزیه, کتب شیمی کاربردی
کتاب تجزیه و تحلیل سطحی پلیمرها با استفاده از XPS و Static SIMS بریگ (Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS)
40,000تومان
عنوان کتاب:Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS
نویسنده:D. Briggs
انتشارات:Cambridge University Press
تاریخ انتشار:2005
ویرایش:اول
زبان: انگلیسی
نوع فایل:PDF
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.