کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالتهای ابتدایی و کاربردهای پیشرفته،در مورد ویژگیهای ابتدایی سطح و نیروهای بینسطحی وابسته به فاصله که برای درک ساده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ضروری هستند، صحبت میکند. مطالب به تدریج پیچیدهتر میشود و جزئیات کالیبراسیون، منشأ فیزیکی آرتیفکتها و محدودیتهای سیگنال/نویز را توضیح میدهد. پوشش این کتاب شامل تصویربرداری، توصیف ویژگیهای مواد، تجزیه و تحلیل روابط مایعات، تریبولوژی و تعاملات الکترومغناطیسی است.
کتب شیمی تجزیه, کتب شیمی سطح, کتب شیمی کاربردی
کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالتهای ابتدایی و کاربردهای پیشرفته Atomic Force Microscopy Understanding Basic Modes and Advanced Applications
45,000تومان
عنوان کتاب:Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
نویسنده: Greg Haugstad
انتشارات:Wiley
تاریخ انتشار:2012
ویرایش:اول
زبان: انگلیسی
تعداد صفحات:496
نوع فایل: PDF
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.